X線発生装置から出てくる白色X線を分光器で単色化、必要なX線を コリメーターにて切り出したのち試料に照射する。 その後、試料に散乱されたX線をX線検出器で検出する。 ここで単結晶試料からの信号を観測するために、 試料部はω、χ、φと呼ばれる３つの回転軸で任意の方位を出すことが可能である。 また検出器部は２θと呼ばれる回転ステージ上に設置され、 任意の散乱角での信号検出が可能である。 このような４つの回転ステージで構成される回折計のことを、 「４軸回折計」と呼ぶ。
上述のような放射光を利用した実験ではなく通常のX線回折・散乱実験は、 オフラインのX線発生装置を用い実施可能ですが、 放射光の限られた貴重なマシンタイム内で実験を成功に導く上で 本オフラインX線回折装置での試料の予備的な実験が重要となっています。 また、試料の方位出し、面の切り出しといった事前準備は、 試料の特定の方位での精密な量子ビーム実験を実施する上で必須であり、 フォトンファクトリーをはじめ、MLF、 JRR-3、 SPring-8での実験の事前準備などにも、 本オフラインX線回折装置は利用されています。 さらに、オフラインの装置ということで、マシンタイムの制約がなく、 放射光X線散乱実験を行う初心者のユーザー、 特に学生の回折・散乱実験の教育的な役割も担っています。
・ 先端計測開発棟 102号室
高周波X線発生装置: SRAM18HF22 (MacScience)
最大定格出力: 18 kW [高周波インバーター式: 22kHz]
最大印加電圧: 60 kV
最大電流: 450 mA
・ 4軸回折計: (HUBER)
X線発生装置から出てくる白色X線を分光器で単色化、必要なX線を
コリメーターにて切り出したのち試料に照射する。
その後、試料に散乱されたX線をX線検出器で検出する。
ここで単結晶試料からの信号を観測するために、
試料部はω、χ、φと呼ばれる３つの回転軸で任意の方位を出すことが可能である。
また検出器部は２θと呼ばれる回転ステージ上に設置され、
任意の散乱角での信号検出が可能である。
このような４つの回転ステージで構成される回折計のことを、
「４軸回折計」と呼ぶ。
基本、放射光ビームラインの実験装置群と同じであり、 以下も参考にしてください。