X線散乱実験 関係

Ｘ線回折装置

Fujii-4C 回折計は、試料からのブラック反射を測定するため 試料の方位を回転させる機構と、 特定のブラック反射角での散乱強度を正確に測定する計数部分より構成される。
我々の目指す構造物性研究では、様々な環境下での物質の性質と構造 (軌道・電荷・スピン・格子)の関係を実験的に明らかにする必要がある。 そこで本回折計に、冷凍機・ダイヤモンドアンビル・マグネット等を設置し、 測定する試料の温度・圧力・磁場などの外場を精密に制御した 回折実験が行われる。

　

マニュアル

  • 回折計制御ソフト:SPEC（CSS）
    スペックのマニュアル等あり。 Built-in functions, SPEC server/client
    CPLOTコマンド一覧, CPLOT-fontコマンド一覧

  • SPEC+各種情報マニュアルをまとめたもの(PDF)
    STARS (Control system with TCP/IP sockets)

  • 4-circle manual (Fujii Lab.)

  • 異常分散項の求め方 (吸収スペクトル)
  • 偏光解析時の座標空間の定義 PF版

  • 波長校正の方法
  • PF BL-16A 情報

    • 便利な情報

  • アナライザー格子定数一覧
  • 特性X線： 波長・波数
  • 格子定数 --> 2theta (SPring-8 石井君)

  • Kα1,2の２θ位置の差の２θ依存性
  • 各元素の吸収、蛍光エネルギー、結晶構造 一覧表(PDF), 一覧表(compact版)
  • X-ray spectra of metal foils, 異常散乱因子＆吸収係数(佐々木さん) (東工大 ver., KEK ver.)
  • 吸収係数、異常分散項のエネルギー依存性(東北大)
  • Center for X-ray optics
  • NIST Database
  • EXAFS database
  • Kramers-Kronig transform program(DIFFKK)

  • 松村武（広大）散乱・回折に関する解説

  • Scientific Software at ESRF

  • オンライン 分度器, 定規