PFでの解析の手引き
吸収のデータの有効利用!
吸収係数の決定
---> 吸収補正などに利用。
f'とf''の決定
2台のイオンチェンバーで試料を挟み、上流のイオンチェンバー(I0)で
試料に入射するX線量を測定する。
試料の下流側のイオンチェンバー(I1)で試料の吸収により減衰した
X線強度を測定する。
すると、以下の関係式により吸収係数がわかる。
I1=I0*exp(-μ(E)t)
ここで、μ(E)が吸収係数、tが試料の厚みである。
ただ、現実には試料とイオンチェンバーの間の空気やカップトンの窓、
試料を挟んでいるテープ各々のエネルギーに対する変化を同時に
測定していることとなり、何らかの補正が必要となる。
ここでは、すでに知られている元素のエネルギー依存性に合わせて
バックグラウンドを合わせてくれるソフト(DIFFKK)を利用する。
プログラム中では佐々木先生の作られたデータベースを利用してるとのことです。
(初期データとしてμ(E)が必要になるが、とりあえずln(I0/I1)で使用可能)
すると、計算結果としてf'(E), f''(E)を得ることができる。
ただし、私の使用した限りでは次の問題がある。
1. 吸収のエネルギーの価数などによる違いを反映してくれない。
具体的には、プログラム中で持っている標準の吸収端に
データを全て合わせてしまう。
-
-----> 元の吸収データを信用してエネルギーをシフトさせるのがよい。
2.Kramers-Kronig変換の精度が足りない。
-
-----> f'の決定の項を参照
したがって、バックグラウンドを取り除くためだけに利用した。ソフトは、
こちらから取ってきてください。
吸収係数の決定
上記のプログラムで求まった、f''(E)を利用し、
μ(E)=(2e^2 h/mcE)f''(E)
の関係式より μ(E)を求める。
吸収補正の仕方
無限平板の近似では、吸収補正としてIreal=μ(E)*Iobsを使用する。
(I_obsは、観測した散乱強度。Irealが補正後の値)。
ここで強度の絶対値を議論するわけではなく、
相対値を議論するのでしたら
μ(E)の絶対値は必要なく。
単にf''(E)/Eを計算すれば、μ(E)エネルギー依存性が得られる。
f'の決定
f''は、先ほどのプログラムから出てきた答を信用する。
f'はKramers-Kronig変換をすればよく、別の
プログラムを利用する。
ここで、吸収端から離れた領域のデータをちゃんと作っておくことが
重要です。(ちなみに私は、2keVから10keVの範囲ぐらいでKK変換を行った)
また、得られた結果とtableで用意されているf'と、
縦軸方向に微妙にずれが生じる。
ここでは、単に縦軸方向に平行移動させるとtableのデータと
一致させることが出来る。
(KK変換のプログラムを改良すれば直るはず(?))
誰か、直しません?
物質の吸収係数の計算
I=I_0*exp(-μt)
I_0:入射X線強度、I:物質透過後の強度、t:厚み
(μ/ρ) = Σ_j (m_j*(μ/ρ)_j)/Σ m_j
元素ごとの吸収係数のデータベース
異常散乱因子&吸収係数
(元東工大・佐々木先生)
簡便には、こちらで計算もできます。
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hironori.nakao(at)kek.jp