X線回折による構造物性研究/装置の特徴と代表的な実験例
担当者：山崎裕一、中尾朗子、中尾裕則、村上洋一
2010年9月17日更新
keyword: X-ray diffraction, crystal structure, atomic position
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装置の特徴と代表的な実験例
- 回折系
- 四軸回折計(BL-4C)
- 偏光解析装置(BL-4C)
- 四軸回折計(BL-3A)
- 二軸回折計(BL-3A): 超伝導マグネットを搭載することにより、強磁場下での回折実験が可能
- 偏光解析装置(BL-3A)
| BL3Aの二軸回折計 |
BL3Aの四軸回折計 |
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- 検出器
- シンチレーションカウンター(NaI)
- シンチレーションカウンター(YAP)
- シリコンドリフト検出器(SDD)
- SSD
- CCDカメラ
- アバランジェフォトダイオード(APD)
| シンチレーションカウンター(NaI) | アバランジェフォトダイオード(APD) |
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- 外場制御装置
- 磁場：超伝導マグネット(<7.5T)
- 圧力：ダイヤモンドアンビルセル(DAC)
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