Photon Factory BL-19A/B

Photon Factory BL-19A/B（軟X線顕微分光・吸収分光ビームライン）

フォトンファクトリーのBL-19はAPPLE-II型アンジュレータを光源とし、走査型透過X線顕微鏡 (STXM) 常設のAブランチと、フリーポートのBブランチから構成されています。

Bブランチでは施設保有の軟X線XAS測定装置が利用可能であるほか、ユーザーが装置を持ち込んで実験できます。Bブランチのスペースは限られているため、課題申請前に必ず下記ステーション担当者へご相談ください。

BL-19は2019年I期から共同利用を開始しました。BT配分の希望調査や配分結果、装置の整備状況等については、随時このWebページおよび課題責任者へのメール連絡等でお知らせします。

NEW!! 最終更新 2026/4/3
2026/4/2 空きBT情報を更新、施設利用料金を掲載しました。 2026/3/25 2026年度I期ビームタイム日程を掲載しました。 2026/2/6 2026年度I期（5～6月）ビームタイムの募集を開始しました（2月27日正午〆）。 2025/12/10 2025年度III期ビームタイム日程を掲載しました。 2025/11/10 2025年度III期ビームタイムの募集を開始しました（11月27日正午〆）。 2025/11/6 2025年度II期ビームタイム日程を更新しました。 2025/9/1 2025年度II期ビームタイム日程を掲載しました。 2025/6/11 ビームタイム日程を更新しました。その他イベント情報を掲載しました。 2025/4/1 2025年度I期ビームタイム日程を一部更新しました。 2025/3/21 2025年度I期ビームタイム日程を掲載しました。 2025/2/3 2025年度I期のビームタイムの募集を開始しました（2月25日正午〆）。 2024/12/26 2024年度III期のビームタイム日程を掲載しました。将来光源に向けてご意見を募集中です。 2024/8/7 2024年度II期のビームタイム日程を掲載しました。 2024/6/18 掲載情報を更新しました。 2024/5/21 空きBT情報を追加しました。 2024/5/16 ホームページを更新しました。 2024/4/26 2024年度I期のビームタイムの留保（空き）BT情報を掲載しました。 2024/4/26 2024年度I期のビームタイムを開始しました。 2024/3/25 PFリングの2023年度の運転が終了しました。 2024/3/13 2024年度I期のビームタイム日程をお知らせしました。 2024/2/12 2024年度I期のビームタイムの募集を開始しました（2月28日正午〆）。 2024/2/9 2023年度III期のビームタイムを開始しました。 2023/11/20 2023年度III期（2024年2-3月）のビームタイムの募集を開始しました（12月8日正午〆）。 2023/11/10 2023年度II期のビームタイムを開始しました。 2023/09/15 2023年度II期のビームタイム日程をお知らせしました。 2023/07/19 2023年度II期のビームタイムの募集を開始しました（8月21日正午〆）。 2023/03/20 WebページのURLが変更となりました。 2023/03/13 PFリングの2022年度の運転が終了しました。運用開始から4年が経過し、2018S1-001課題が終了しました。 2021/04/07 ステーション担当者の変更手続きを行いました。下部の担当者情報を更新しました。 2020/07/01 新型コロナウイルス感染拡大に伴う2020年6月期の運転が終了しました。遠隔実験やそれに伴う調整、大学院生の学位取得に係る実験等を行いました。 2020/06/01 新型コロナウイルス感染拡大に伴い2020年5-6月期運転は中止となっていましたが、6/17-7/1の予定で臨時に運転が実施されることとなりました。https://www2.kek.jp/imss/notice/2020/05/291600.html BL-19ではwithコロナに向けての試験的実験運用を予定しています。 2020/03/06 現在ビームラインおよびSTXMの調整を行っています。以前と比べエネルギー分解能が改善し、300nm以下の構造のvisibilityが向上しました。また、N K端〜O K端の範囲では強度が数倍増しました。 2020/02/06 PFリングが2019年度III期のユーザー運転を開始しました。冬の停止期間中にM1ミラーの交換や熱対策を行いました。 2019/05/09 PFリングが2019年度I期のユーザー運転を開始しました。今期よりPF-PACに基づく課題への配分が始まります。まずは、5/10より2018S1-001課題によるSTXM、バルクXAFS双方の調整と実験が開始されます。 2018/11/16 PFリングが2018年度II期のユーザー運転を開始しました。 2018/11/14 光導入試験が実施され、BL-19に初めて放射光が導入されました。

BL-19A: 走査型透過X線顕微鏡 (STXM)

• 集光：FZP
• 空間分解能：30 nm程度
• エネルギー分解能：E/dE = 5000程度
• エネルギー範囲：160-1900 eV
• 測定対象吸収端：B, C, N, O, F, Na, Mg, Al, Si (以上K端), S, Cl, K, Ca, 3d遷移金属 (以上L端), 4f希土類 (M端)など
• そのほか
  リモート制御による測定が可能です。
  大気非暴露環境での測定が可能です [4]。
  透過法のほか、蛍光収量法、電子収量法による測定が可能です。
  各種偏光モード（水平直線偏光、垂直直線偏光、円偏光、楕円偏光）での測定が可能です。
  詳しくはステーション担当者にご相談ください。

BL-19B: フリーポート（軟X線吸収分光ほか）

• 設置可能装置サイズ：1600x2000 mm
• 集光ビームサイズ：横200x縦50 um（横280～30 um可変式）
• エネルギー範囲：90-2000 eV
• エネルギー分解能：E/dE = 5000程度
• 保有装置：軟X線XAS測定装置
  電子収量法、蛍光収量法、透過法が利用可能です。
• そのほか
  持ち込み装置の接続、利用が可能です。
  大気非暴露環境での測定が可能です。
  試料回転による測定が可能です。
  各種偏光モード（水平直線偏光、垂直直線偏光、円偏光、楕円偏光）での測定が可能です。
  クイックスキャンによる高速計測が可能です（例：C K-edge XASスペクトル/40秒）。
  2Dスキャンによる画像解析が可能です。
  粉体、基板、薄膜のほか液体やガスの測定も可能です。
  詳しくはステーション担当者にご相談ください。

ステーション担当者

BL-19共通部 / 19A (STXM) / 19B (フリーポート)
担当者: 山下翔平 (PHS: 4828) shohei.yamashita[@]kek.jp
放射光実験施設：測定装置部門

ビームタイム＆留保（空き）情報

NEW!! ビームタイムカレンダー（2026/4/3更新）

NEW!! 留保（空き）情報（2026/4/3更新）

• 2026/5/29 9:00 -- 21:00 (12h, 留保)
• 2026/6/10 9:00 -- 2026/6/11 9:00 (24h, 留保)
• 2026/6/17 9:00 -- 2026/6/18 9:00 (24h, 留保)

留保BTは施設利用（有償利用）を優先とし、BT開始日の30日前にユーザーに開放します。
ご希望の方はお早めに担当者までご相談ください。

お問い合わせ

ビームラインの利用に関する相談（実験内容や日程に関する相談や質問、要望、施設利用や共同研究など）、実験手法や解析方法など、ご不明点はこちらからお問い合わせください。

参考情報

共同利用者支援システム

ビームタイム利用記録

PF産業利用の制度について

X-ray Interactions with Matter

X-ray Data Booklet

Periodic Table of X-ray Properties

測定装置部門 BL-19A/B：軟X線顕微・分光実験ステーション

物構研チャンネル PF BL-19建設記録

「はやぶさ2」微粒子分析

そのほか関係情報はBL-19専用メーリングリストからお知らせしています。

アドレス変更や追加登録をご希望の方、メール連絡が不要の方はBL担当者にお知らせください。

その他

PF研究会「放射光顕微分光が切り拓く材料研究のフロンティア」（終了しました。）

PF研究会「放射光２ビーム利用と広波長域実験が切り拓く学術フロンティア」（終了しました。）

PF研究会「放射光科学でのDX」（終了しました。）

日本放射光学会 若手研究会「材料研究 × イメージング：基礎から融合研究へのステップアップ」（終了しました。）

日本XAFS研究会「XAFS夏の学校2025」（終了しました。）

日本XAFS研究会「第28回XAFS討論会」（終了しました。）

References

[1] S. Sasaki et al., Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. A 331, 763 (1993).
[2] K. Amemiya and T. Ohta, J. Synchrotron Rad. 11, 171 (2004).
[3] Y. Takeichi et al., Rev. Sci. Instrum. 87, 013704 (2016).
[4] S. Yamashita et al., AIP Conf. Proc. 2990, 040009 (2023).